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聚焦离子束-电子束双束电镜 FIB-SEM
适用于金属、半导体、陶瓷、高温合金、芯片等材料的微纳加工,芯片解理以及透射电镜(TEM)制样
FIB-SEM-Raman-TOF SIMS联用
该系统在FIB-SEM系统的基础上配备了拉曼(Raman)、飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)、能谱仪(EDS)、背散射电子衍射仪(EBSD)、阴极荧光(CL)、扫描透射探测器(STEM)以及多种加工、分析型附件,能够更加全面地对样品进行多角度原位分析
FIB-SEM双束电镜培训
本次实战培训班的对象面向半导体、钢铁样品、高温合金、电池材料、二维材料、陶瓷及地质样品等的FIB+TEM制样用户,或者高校、科研单位及企业中的FIB工程师群体。
FIB-SEM双束电镜/PFIB 氙离子束
氙离子束,加工效率高,数十倍于镓离子束
FIB加工/nanobuilder
FIB-SEM 截面分析-芯片解理
FIB线路修改
(禁止上传图片或其他文件)
FIB 电子注入
为了方便评估,请按照需求内容按实际填写相关内容。
FIB线路修改
型 号
:
/
FIB
型 号
:
Helios G4 UX
Helios G4 PFIB CXe
型 号
:
G4 CXe
双束场发射扫描电镜FIB
型 号
:
TESCANGAIA3
FIB
型 号
:
helios G5 UC
聚焦离子束FIB
型 号
:
Helios 460hp
聚焦离子束电镜 FIB
型 号
:
Helios 5 CX DualBeam
聚焦离子束-场发射扫描电子显微镜FIB
型 号
:
Cross beam 540
聚焦离子束双束显微镜(FIB)
型 号
:
Carl Zeiss SMT/Oxford Auriga C
FIB等离子束系统
型 号
:
FEI Helios G4 CX
SEM-FIB双束电镜
型 号
:
Thermofisher Helios 5 CX
冷冻FIB聚焦离子束FIB EDS
型 号
:
helios G3 CX
电子束/粒子束双束显微镜 赛默飞 Helios G4 PFIB CXe
型 号
:
Helios G4
FIB聚焦离子束
型 号
:
FEI,Helios G4 CX
FIB场发射扫描电子显微镜-聚焦离子束系统
型 号
:
crossbeam 540
FIB聚焦离子束电镜
型 号
:
Auriga Compact
FIB聚焦离子束DB235系统
型 号
:
DB235
聚焦离子束系统(CrossBeam)FIB
型 号
:
AURIGA
FEI Versa3D 双束FIB
型 号
:
Versa3D
等离子聚焦离子束 (FIB) 系统/双束显微镜
型 号
:
Helios G4 CX
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