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FIB场发射扫描电子显微镜-聚焦离子束系统 蔡司
设备型号:crossbeam 540
厂       家:蔡司
所属地区:天津
  • 技术参数:

    (离子光学系统)分辨率:3nm@30kv (电子光学系统)分辨率:3nm@20kv (离子光学系统)发射源:镓液态金属离子源 (电子光学系统)发射源:肖特基场发射源

    功能特色:

    样品要求:

    导电性良好

    应用领域:

    服务范围:

    收费标准:

    面议

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