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等离子聚焦离子束 (FIB) 系统/双束显微镜 FEI
设备型号： Helios G4 CX
厂       家：FEI
所属地区：北京
  • 技术参数：

    二次电子分辨率在最佳工作距离时分辨率：0.6nm@15kV；1.2nm@1kV 背散射电子分辨率：1.6nm@15kV 电子束和离子束交叉点、分析工作距离：4.0mm 加速电压：200V-30KV   (电压范围连续可调) 束流强度：1pA   - 100nA

    功能特色：

    样品要求：

    上下表面平整光滑、厚度2mm以下，长宽3mm左右

    应用领域：

    服务范围：

    收费标准：

    面议

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