1、具备双球差校正器：物镜球差校正器和聚光镜球差校正器； 2、透射电子显微（TEM）模式的信息分辨率：优于0.06 nm nm (300 kV)； 3、HAADF分辨率：300 kV时优于0.06 nm，60 kV时优于0.096 nm； 4、极靴间距5.4 mm。 1、配置四个探头，包括HAADF探头、轴向BF探头、DF2 探头和DF4 探头；可同时采集四幅(4k x4k pixels) 来自不同角度的电子信号； 2、具备Super X能谱仪系统等； 3、可对无机材料进行差分相位衬度（DPC）分析，可表征无机材料中的原子间电场分布； 4、具有轻元素成像功能iDPC，可以在低束流下观察样品并实现轻重元素同时成像； 5、洛仑兹模式下，可实现< 2 nm分辨率的无场成像； 6、配备三维重构样品杆和软件，采集TEM/STEM/EDS 三维图像。

1、 形貌观察：对各种材料内部微结构进行二维显微形貌观察，包括常见的粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察；配合三维重构可以得到三维立体形貌； 2、 结构分析：利用选区电子衍射、高分辨透射图像、高分辨扫描透射图像等分析晶体材料的结构，包括金属、陶瓷、半导体等显微结构分析； 3、 成分分析：配合能谱仪可以对样品元素做点、线、面、体分布分析，以及B(5) – Am(95)元素进行定性和半定量微区分析；可以得到原子分辨率的元素面分布图像； 4、 磁场电场测量：无场环境下对磁性样品的观察，可以实现固有磁场和电场的测量； 5、 电镜原位实验：选择特定设计的样品台进行多种原位动态实验，包括加热、低温、通电、通液体、电化学、力学、光学的原位测试。

Titan Themis Z的STEM模式和TEM模式适用于对无机/有机材料结构进行形貌、成分、衍射和原子级高分辨表征和分析。用于材料、生物学、化学化工、半导体、地质学、物理学等领域。

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