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双束扫描电子显微镜 FEI
设备型号:FEI Versa 3D HiVac
厂       家:FEI
所属地区:上海
  • 技术参数:

    配备了Ga离子源和纳米机械手可进行微纳米尺度样品加工和透射电镜样品制备,配备了EDS、EBSD可进行材料表面微区成分与晶相分析

    功能特色:

    EDS、EBSD、样品加工制备、微曲成分与晶相分析

    样品要求:

    样品干净无污染

    应用领域:

    服务范围:

    收费标准:

    面议

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migelab@labideas.cn
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