具有EELS、EDS、原位加热等功能配件1、具备聚光镜球差校正器。2、EELS能量分辨率：优于0.35 eV (200 kV)。 3、透射电子显微（TEM）模式的点分辨率：优于0.22 nm (200 kV)。 4、HAADF分辨率：200 kV时0.06 nm，80 kV时优于0.136 nm。 5、具备Super X能谱仪系统。 6、极靴间距5.4 mm。 7、具备Enfinium ER Model 977系统一套，拥有Dual EELS功能、EDS/EELS同时高速采谱功能。 8、具备分割式STEM探头。9、其他原位：原位力学10、温度范围：室温

EDS\EELS\HAADF-STEM\ABF-STEM\DPC1、STEM模式能够对无机材料结构进行亚埃尺度（<0.1 nm）的表征和分析。  2、能利用高角度环形暗场（HAADF）、环形明场（ABF）、能谱（EDS）、电子能量损失谱（EELS）等技术直接观察无机材料中轻、重原子的位置和排布情况，并获得相应的化学环境和电子结构信息。 3、可对无机材料进行形貌和成分的三维重构。 4、可对无机材料进行差分相位衬度（DPC）分析。5、可表征无机材料中的原子间电场分布。6、可对无机材料进行常规的形貌、成分、衍射、高分辨结构等分析。

1.样品直径3mm 2.样品干净无污染 3.样品无磁性

用于材料、化学化工、半导体、地质学、生物学、物理学等领域

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