仪器型号：JEM-2100F主要技术指标：加速电压：200kV，稳定性≤1×〖10〗^(-6)/min； 电子枪：ZrO/W(100)，亮度>4*〖10〗^8 A/(cm^2·sr)，真空度〖10〗^(-8) Pa量级； 束斑尺寸：TEM模式 2.0 nm~5.0 nm，EDS/NBD/CBD模式 0.5 nm~2.4 nm，STEM模式 0.2 nm~1.5 nm； 物镜：球差系数 0.5 mm，色差系数 1.1 mm； 分辨率：点分辨率 0.19 nm，线分辨率 0.10 nm，STEM分辨率 0.20 nm； 能谱仪：接收角 0.13 sr，谱线分辨率 127 eV； 样品移动范围：X/Y 方向平移范围 ±1.0 mm，Z方向平移范围 ±0.1 mm，X/Y方向倾转角度范围 ±25o

主要用途：该设备包含有TEM﹑HRTEM、STEM、EDS﹑SAED工作模式，可检测常规粉末材料的晶体结构和缺陷、纳米原子尺度的微观形貌、元素含量及分布等，也可对对磁性粉末材料；核壳结构和多层膜结构材料；微米和亚微米级纤维材料（比如炭纤维）；磁性块体金属材料、陶瓷和复合材料；空气和水蒸气敏感材料进行结构表征和解析。

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