仪器型号：Tecnai G2 F20 S-Twin主要技术指标:加速电压：200 kV电子枪：热场发射TEM分辨率：点分辨率≤ 0.24 nm，线分辨率= 0.102 nmSTEM分辨率：≤ 0.19 nm能谱仪分辨率：≤ 136 eVTEM放大倍率：25 x - 1,030 kxSTEM放大倍率：150 x- 230 Mx双倾杆最大倾转角：± 40°

主要功能：该设备包含有TEM﹑HRTEM、STEM、EDS﹑SAED、3D-Tomography工作模式，可检测常规粉末材料的晶体结构和缺陷、纳米原子尺度的微观形貌、元素含量及分布等，也可对对磁性粉末材料；核壳结构和多层膜结构材料；微米和亚微米级纤维材料（比如炭纤维）；磁性块体金属材料、陶瓷和复合材料；空气和水蒸气敏感材料进行结构表征和解析。

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