高低温霍尔效应测试
提供半导体薄膜材料的高温Hall测量,测试温度为90-700K,磁体磁场强度为0.5 T,最大测量方块电阻为10^11 Ω/sq,最小测试电流为1 pA,直流范围从1 pA到20 mA,也可采用交流模式(交流模式下不能测量高阻样品
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电学
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