原子力显微镜测试AFM/表面形貌

具有Tapping和contact两种模式，可以对材料的表面形貌进行探测。配备C-AFM模块，能够探测材料中的电流通道。利用KPFM功能，可以测试金属材料的功函数和半导体材料的表面电势。利用LFM功能，可以测试有机材料表面微区的摩擦力。利用MFM，可以测量样品的磁畴分布

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