仪器参数:加速电压,最高可达300kv。TEM点分辨率80pm,STEM分辨率,82pm,样品室真空,<1*10^-5pa,电子枪真空:<1*10^-6 Pa,TEM放大倍数,50-1,500,000倍。STEM最大放大倍数>=100,000,000倍。
原子像表征开展表面、界面、缺陷等材料原子结构相关研究。研究材料的轻重原子分布和占位,并结合X射线能谱得到材料原子分辨率的成份分布。可探测B以上元素,得到原子分辨率的成份分布,微量元素含量低至0.1at%即可进行表征,可进行能谱的三维成份重构
无磁性的一般透射电镜样品,直径小于3mm,薄区厚度不超过100nm的圆片FIB制备的样品。分散在铜网上的粉末样品。其他透射电镜样品(特殊样品杆)。
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