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TEM电子透射显微镜 JEM-2100F
设备型号:日本电子
厂       家:JEM-2100F
所属地区:北京
  • 技术参数:

    加速电压 :☒200kV; TEM点分辨率:0.23 nm; STEM分辨率:0.16 nm; A,B倾斜角:+-30; 极靴:HR 可用功能: ☒高分辨透射电镜(HRTEM)、电子衍射(ED)、HAADF-STEM 、ABF-STEM 、 ☒EDS 、☒纳电子束衍射

    功能特色:

    样品要求:

    含有磁性元素但无磁、无磁性元素且无磁性

    应用领域:

    服务范围:

    收费标准:

    面议

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