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吸收反射红外、扫描隧道显微镜联用超高真空系统FTIR-STM/AFM RAIRS
设备型号:VT-AFM System
厂       家:RAIRS
所属地区:北京
  • 技术参数:

    超高真空:< 3×10-10 mbar; 扫描探针显微镜 STM/AFM; 傅里叶变换红外光谱 FTIR; 低能电子衍射/俄歇能谱 LEED/AES; 程序升温脱附 TPD; 研究金属单晶及负载在金属单晶上的颗粒或薄膜的结构和吸附特征,红外谱可以设定 1 个波数分辨率,可以测定 10-11 mbar 到10-5 mbar 气氛中表面吸附物种的变化,扫描隧道显微镜可以给出样品表面的原子尺度结构信息;

    功能特色:

    单晶表面吸附物种红外检测、二维体系形貌分析

    样品要求:

    应用领域:

    服务范围:

    收费标准:

    面议

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