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AFM原子力显微镜 布鲁克
设备型号:nanoscope V
厂       家:布鲁克
所属地区:北京
  • 技术参数:

    样品要求 :长 宽 厚 1cm*1cm*2mm 样品类型 :薄膜 块体 最大连续扫描面积: 10微米*10微米 扫描模式: 接触模式 非接触模式 轻敲模式 均可 电性能:扫描开尔文探针显微镜 (SKPM/KPM) 磁性能:磁力显微镜 (MFM) 光学性能 :介电/压电性能 静电力显微镜 (EFM)

    功能特色:

    样品要求:

    薄膜,纳米级平整

    应用领域:

    服务范围:

    收费标准:

    面议

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migelab@labideas.cn
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