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接触式轮廓仪 Aep technology
设备型号:Nano Map 500LS
厂       家:Aep technology
所属地区:天津
  • 技术参数:

    "垂直分辨率:0.1nm 台阶高度重复性:<0.54nm 精细模式测量高度范围:5 μm 大范围模式测量高度范围:5 μm XY方向扫描分辨率: 0.1 μm XY定位重现性: 0.2 μm 扫描速度:10-50 μm/sec "

    功能特色:

    台阶高度、粗糙度

    样品要求:

    应用领域:

    材料、半导体、机械制造领域

    服务范围:

    传统的接触式表面轮廓仪和扫描探针显微镜(SPM) 完美的结合,允许产生扫描区高分辨的二维及三维图像(Z轴范围从nm级到mm级)。

    收费标准:

    面议

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migelab@labideas.cn
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