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DXRD（摇摆曲线、双晶XRD） 英国Bede
设备型号： Bede D1
厂       家：英国Bede
所属地区：北京
  • 技术参数：

    最高分辨率可达5″

    功能特色：

    高分辨摇摆曲线，RSM

    样品要求：

    应用领域：

    半导体材料

    服务范围：

    适用于半导体外延片材料的测试，Si、GaAs、InP、GaN、Sapphire等的，theta-2theta扫描，联动扫描，摇摆曲线，phi扫描，RSM，mapping

    收费标准：

    面议

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