服务描述
CV汞探针测试仪测试外延层掺杂浓度
设备型号:MCV-530L
生产厂家:Semilab
可检材料:SiC、GaN、GaAs等外延层掺杂浓度
测试精度:0.5%
测试量程:1E14-1E19carriers/cm3
项目介绍
样品要求
可检尺寸:2~8寸
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CV汞探针测试仪测试外延层掺杂浓度
设备型号:MCV-530L
生产厂家:Semilab
可检材料:SiC、GaN、GaAs等外延层掺杂浓度
测试精度:0.5%
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可检尺寸:2~8寸
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