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原位拉伸扫描电镜(SEM)

周 期
5个工作日
设 备
FEI Quanta 650FEG
测试价格
800/小时起

服务描述


二次电子分辨率
高真空模式:1.0nm @ 30kV3.0nm @ 1kV
低真空模式:1.4nm @ 30kV3.0nm @ 3kV
环境真空模式:1.4nm @ 30kV
背散射电子分辨率
高真空和低真空模式:2.5nm @ 30kV
加速电压

200V30kV,连续可调
样品台移动范围

X=Y=150mm

主要配件

1. 能谱仪(EDS):OXFORD X-MaxN50),可对B-U之间的元素进行分析

2. 电子背散射衍射仪(EBSD):OXFORD NordlysMax2,可进行晶体取向、晶粒尺寸、织构等分析

3. 拉伸台:GATAN DEBEN MICROTEST 2KN,在样品拉伸、弯曲过程中可原位动态观察和分析 

项目介绍

可以为很多材料做拉伸测试,如金属材料(研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形),高分子材料,陶瓷材料等

样品要求

热固性塑性差,断裂后掉碎渣,污染电镜,不接

样品导电性要好,要不然断面看不清晰

样品尺寸如下

结果展示

复合材料原位拉伸

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