服务描述
二次电子分辨率
高真空模式:1.0nm @ 30kV;3.0nm @ 1kV
低真空模式:1.4nm @ 30kV;3.0nm @ 3kV
环境真空模式:1.4nm @ 30kV
背散射电子分辨率
高真空和低真空模式:2.5nm @ 30kV
加速电压
200V~30kV,连续可调
样品台移动范围
X=Y=150mm
主要配件
1. 能谱仪(EDS):OXFORD X-MaxN(50),可对B-U之间的元素进行分析
2. 电子背散射衍射仪(EBSD):OXFORD NordlysMax2,可进行晶体取向、晶粒尺寸、织构等分析
3. 拉伸台:GATAN DEBEN MICROTEST 2KN,在样品拉伸、弯曲过程中可原位动态观察和分析
项目介绍
可以为很多材料做拉伸测试,如金属材料(研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形),高分子材料,陶瓷材料等
样品要求
热固性塑性差,断裂后掉碎渣,污染电镜,不接
样品导电性要好,要不然断面看不清晰
样品尺寸如下
结果展示
复合材料原位拉伸
微信扫码直接开聊
关注我们
扫描关注“米格实验室”公众号