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服务描述
二次电子像，背散射电子像，能谱EDS，阴极荧光CL，电子背散射衍射EBSD，TKD，ECCI等
项目介绍
主要用于对材料的微观形貌、组织、成分、晶体取向和缺陷进行有效分析
样品要求
导电性好，稳定性好
一般尺寸小于5cm，大尺寸请咨询技术经理
EBSD，TKD需要制样
样品有磁性需要提前告知技术经理！
结果展示
案例一：SEM看截面形貌
案例二：SEM看截面形貌
案例三：阴极荧光CL
案例四：EBSD
案例五：ECCI
案例六：EDS成分分析
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