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透射电镜/透射电子显微镜/球差电镜/TEM/ACTEM
实验须知
实验提交后提交内容仅作为平台实验评估使用，不代表一定进行实验。
样品要求：
磁性的块体和薄膜样品只接受FIB制样。
1.粉末样品，要求无颗粒感，建议100nm以下，一般用乙醇分散后超声，捞到超薄碳膜上，特殊要求请在表单处说明。
2.为了达到理想效果，块体样品，薄区厚度60-70nm左右。
3.磁性样品需提前告知。
4.米格实验室提供电解双喷，超薄切片，FIB，离子减薄等制样手段，如需制样，请联系杨老师。
详细的实验细节可进行下面表格填写
联系人
杨老师： 18301325784