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透射电子显微镜(TEM)
实验须知

样品要求:

磁性的块体和薄膜样品只接受FIB制样。

1.粉末样品,要求无颗粒感,建议100nm以下,一般用乙醇分散后超声,捞到超薄碳膜上,特殊要求请在表单处说明。
2.为了达到理想效果,
块体样品,薄区厚度60-70nm左右。

3.磁性样品需提前告知。
4.
米格实验室提供电解双喷,超薄切片,FIB,离子减薄等制样手段,如需制样,请联系杨老师。

详细的实验细节可进行下面表格填写


联系人
杨老师: 18301325784
  • Q
    是否需要回收样品
  • 样品 1
    样品名称
  • 1.1
    样品所含全部元素
  • 1.2
    是否含磁性元素
    * 磁性元素
  • 1.3
    危险性
    * 其他危险性请在下方留言说明
  • 1.4
    是否现场
  • 1.5
    样品形态
    * 粉末磁性样品暂不接样
  • 1.6
    粉末粒径大小/块体薄膜样品尺寸
    * 块体薄膜样品建议尺寸0.5cm*0.5cm
  • 1.7
    样品制样
    * 磁性的块体、薄膜样品只接受FIB制样的样上TEM
  • 1.8
    导电性
    * 块体和薄膜需要说明导电性
  • 1.9
    测试内容
    * 需要测试的项目:HAADF-STEM 、ABF-STEM仅支持球差电镜。
  • 1.10
    电镜类型
  • 1.11
    测试放大倍数
  • 1.12
    拍摄数量
  • 1.13
    其他/参考数据
    * 其他要求可在此进行说明,如果有相关的参考数据文件提供,可到下方附件处上传。
  • 1.14
    测试内容:元素mapping
点击添加一组样品
(当您的样品测试要求或测试需求不一样,您可以再增加一组样品)
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实验方式
合计费用约
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