四个独立的老化区域,1路数字信号图形发生系统,4路模拟信号发生系统,温度范围0℃~200℃,老化专用电源Vcc=18V/10A,Vmux=18V/10A, Vclk=18V/5A,Vee=18V/10A
该设备可对各种封装形式的集成电路进行高温动态(静态)老炼试验,为了筛选或剔除那些勉强合格的器件,主要用在筛选试验和质量一致性检验的 C 组检验。
集成电路;电子器件;
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