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SEM-FIB-Raman-TOF-SIMS-EDS-EBSD-CL原位分析平台 TESCAN Oxford WITEC
设备型号:SEM-FIB:S8000G EDS:ULTIM-MAX17
厂       家:TESCAN Oxford WITEC
所属地区:河南
  • 技术参数:

    二次电子分辨率:0.9nm@15kV1.4nm@1kV 聚焦离子束:分辨率:< 2.5nm@30kV 探针电流:1pA - 100nA 放大倍率:2 × -2,000,000 ×TOF-SIMS:元素检测下限:5ppm 空间分辨率:水平方向40nm;垂直方向>3nm 质量数范围:1-2500Raman:激光波长:标配532nm、785激光器 共聚焦分辨率:XY方向360nm;Z方向2000nm 拉曼光谱范围:95-4000cm-1(532激光) 光谱分辨率:优于1.5cm-1 EDS:170mm²超大面积活区; 能量分辨率:Mn Ka保证优于127eV;元素分析范围:Be4-Cf98 EBSD:在线最高解析标定速度优于3000点/秒; 最小工作电流100pA,最小工作电压5KV; 其他附件:纳米机械手、CL、STEM

    功能特色:

    样品要求:

    干燥的样品,热稳定性良好,无放射性

    应用领域:

    服务范围:

    收费标准:

    面议

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