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全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
设备型号:Rigaku NanoHunter
厂       家:
所属地区:北京
  • 技术参数:

    功能特色:

    用途及功能: 主要用于固体材料表面最外层(约5nm)元素组成的定性和定量分析,能够对薄膜、固体、粉末、液体等样品进行分析,可检测元素为Al至U。

    样品要求:

    应用领域:

    服务范围:

    服务内容: 应用于薄膜、固体、粉末、液体等样品的分析。

    收费标准:

    面议

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